| 标题 |
  A diagnosis approach for semiconductor properties evaluation from ab initio calculations: Ag-based materials investigation 从头计算半导体性能评估的诊断方法：银基材料的研究
相关领域
半导体
带隙
载流子
密度泛函理论
电子结构
化学
从头算
电子能带结构
直接和间接带隙
从头算量子化学方法
材料科学
混合功能
价（化学）
计算化学
化学物理
凝聚态物理
光电子学
分子
物理
有机化学
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：Journal of Solid State Chemistry 作者：Luis Henrique da Silveira Lacerda; Elson Longo; Juan Andrés; Miguel Angel San-Miguel 出版日期：2021-10-19 |
| 求助人 | |
| 下载 | |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
忐忑的黑猫
科研小民工
森鹿
bc
余味
cdercder
归尘
Luka
善良的剑通
平常的毛豆
Xiaoxiao
斯寜
827584450
pluto
蒋时晏
illusion2019
桐桐
冰魂
Oracle
xzy998
皖公网安备34019202002308
