标题 |
![]() 温度对UTB-DG-FE-TFET可靠性的影响及其RF/模拟和线性参数依赖性
相关领域
互调
线性
功勋
材料科学
光电子学
晶体管
可靠性(半导体)
电压
功率(物理)
电气工程
电子工程
计算机科学
物理
放大器
工程类
CMOS芯片
量子力学
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:Journal of Electronic Materials 作者:Girdhar Gopal; Tarun Varma 出版日期:2023-07-11 |
求助人 | |
下载 | |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|