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A Comprehensive Model for Ferroelectric FET Capturing the Key Behaviors: Scalability, Variation, Stochasticity, and Accumulation |
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期刊:2020 IEEE Symposium on VLSI Technology 作者:Shan Deng; Guodong Yin; Wriddhi Chakraborty; Sourav Dutta; Suman Datta; et al 出版日期:2020 |
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