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Reflectance measurements and optical constants in the extreme ultraviolet for thin films of ion-beam-deposited SiC, Mo, Mg2Si, and InSb and of evaporated Cr |
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期刊:Applied Optics 作者:J. Larruquert; R. Keski-kuha 出版日期:2000-06-01 |
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(2025-6-4)