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  First Order Rate Law Analysis for Reset State in Vanadium Oxide Thin Film Resistive Random Access Memory Devices 相关领域
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期刊：Nanomaterials 作者：Kai-Huang Chen; Chien-Min Cheng; Na-Fu Wang; Hsiao-Wen Hung; Cheng-Ying Li; et al 出版日期：2023-01-01 |
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