| 标题 |
Simulation of Total Ionizing Dose (TID) Effects Mitigation Technique for 22 nm Fully-Depleted Silicon-on-Insulator (FDSOI) Transistor 22 nm全耗尽绝缘体上硅(FDSOI)晶体管总电离剂量(TID)效应抑制技术的模拟
相关领域
绝缘体上的硅
光电子学
晶体管
材料科学
NMOS逻辑
阈值电压
MOSFET
硅
电气工程
CMOS芯片
电子工程
电压
工程类
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:IEEE Access 作者:Gangping Yan; Jinshun Bi; Gaobo Xu; Kai Xi; Bo Li; et al 出版日期:2020-08-25 |
| 求助人 | |
| 下载 | |
|
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|