Wafer Map Failure Pattern Recognition and Similarity Ranking for Large-Scale Data Sets

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标题	Wafer Map Failure Pattern Recognition and Similarity Ranking for Large-Scale Data Sets
网址	http://xplorestaging.ieee.org/ielx7/66/7027932/06932449.pdf?...
DOI	10.1109/tsm.2014.2364237 doi
其它	期刊：IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing 作者： Ming-Ju Wu; Jyh-Shing R. Jang; Jui-Long Chen 出版日期：2014-10-22
求助人	mucheng 在 2026-01-19 23:17:49 发布自北京，悬赏 10 积分
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American Association for Cancer Research (AACR)

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