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 Impact of scaling on the soft error sensitivity of bulk, FDSOI and FinFET technologies due to atmospheric radiation 大气辐射对体、FDSOI和FinFET技术软误差灵敏度的影响
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期刊：Integration 作者：G. Hubert; L. Artola; Didier Regis 出版日期：2015-01-22 |
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