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An efficient SRAM yield analysis method based on scaled-sigma adaptive importance sampling with meta-model accelerated 一种基于元模型加速的scaled-sigma自适应重要性采样的高效SRAM成品率分析方法
相关领域
加速
静态随机存取存储器
蒙特卡罗方法
计算机科学
采样(信号处理)
重要性抽样
投影(关系代数)
算法
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并行计算
数学
统计
工程类
计算机硬件
计算机视觉
滤波器(信号处理)
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期刊:Integration 作者:Liang Pang; Ziqi Wang; Rui Shi; Mengyun Yao; Xiao Wei Shi; et al 出版日期:2022-12-06 |
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