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 Research of single-event burnout in vertical Ga2O3 FinFET by low carrier lifetime control 基于低载流子寿命控制的垂直Ga2O3 FinFET单事件烧毁研究
相关领域
倦怠
事件（粒子物理）
材料科学
光电子学
心理学
物理
临床心理学
天体物理学
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期刊：Semiconductor Science and Technology 作者：Yun-can Bao; Chenghao Yu; Wen‐Sheng Zhao; Xiao-dong Wu; Xin Tan; et al 出版日期：2024-07-10 |
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