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Measurement of built-in electrical potential in III–V solar cells by scanning Kelvin probe microscopy |
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期刊:Journal of Applied Physics 作者:Chun-Sheng Jiang; H. R. Moutinho; D. J. Friedman; J. F. Geisz; M. M. Al-Jassim 出版日期:2003-06-15 |
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