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Stress-induced cracks in triangular defects of thick 4H-SiC homoepitaxial layers |
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期刊:Vacuum 作者:Siqi Zhao; Yunkai Li; Moyu Wei; Yicheng Pei; Jingyi Jiao; et al 出版日期:2025-01-25 |
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(2025-6-4)