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Monitoring Metallized Film Capacitor Health: A Method for Estimating Capacitance Amid Short-Term Failures Due to Self-Healing 监测金属化薄膜电容器的健康状况:一种在由于自愈引起的短期故障中估计电容的方法
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期刊:IEEE Transactions on Device and Materials Reliability 作者:Yushuang He; Feipeng Wang; Hongming Yang; A. J. Johnston; Xiao Zhang; et al 出版日期:2025-05-22 |
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