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A novel methodology to characterize LGA packaged GaN power transistors using a mother/daughter board configuration for the reliability qualification in the mild hybrid applications 一种利用母/子板配置表征LGA封装GaN功率晶体管的新方法,用于轻度混合应用中的可靠性鉴定
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期刊:Microelectronics Reliability 作者:Chawki Douzi; Moncef Kadi; Pascal Dherbécourt; Mohamed Akram Besserour; Eric Joubert; et al 出版日期:2022-09-24 |
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