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Special Degradation Effects of 60Co γ-Rays Irradiation on Electrical Parameters of SiC MOSFETs 60Co γ射线辐照对SiC MOSFET电学参数的特殊退化效应
相关领域
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期刊:IEEE Transactions on Nuclear Science 作者:Haonan Feng; Xiaowen Liang; Xiaojuan Pu; Sheng Yang; Jie Feng; et al 出版日期:2023-07-24 |
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