| 标题 |
 Investigation of nanoscratch anisotropy of C-plane sapphire wafer using friction force microscope 相关领域
材料科学
蓝宝石
晶体孪晶
钻石
刮擦
显微镜
复合材料
各向异性
打滑（空气动力学）
金刚石车削
薄脆饼
凝聚态物理
光学
纳米技术
激光器
微观结构
物理
热力学
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：Precision Engineering-journal of The International Societies for Precision Engineering and Nanotechnology 作者：Wangpiao Lin; Jun Shimizu; Libo ZHOU; Teppei Onuki; Hirotaka Ojima 出版日期：2021-08-23 |
| 求助人 | |
| 下载 | 求助已完成，仅限求助人下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)
BowieHuang
HOAN
无极微光
Twonej
归尘
Rollei
Criminology34
pluto
风清扬
寻道图强
专注的问寒
stiger
彭于彦祖
spc68
cc
棋士
义气丹雪
Adc
Momomo
蜀安
Maestro_S
卡皮巴拉yuan
香蕉诗蕊
子车茗
皖公网安备34019202002308
