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 Turnaround in the temperature dependence of RTN in 3D nand arrays entering the cryogenic regime 进入低温状态的3D nand阵列中RTN温度依赖性的转变
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期刊：Microelectronic Engineering 作者：David G. Refaldi; Gerardo Malavena; Luca Colombo; Luca Chiavarone; Aurelio Giancarlo Mauri; et al 出版日期：2025-08-06 |
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