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 Effects of X-ray Irradiation on MOSFET Characteristics and DRAM Leakage Phenomena X射线辐照对MOSFET特性和DRAM泄漏现象的影响
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材料科学
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期刊：MRS Proceedings 作者：S. R. Kasi; Steven H. Voldman 出版日期：1992-10-24 |
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