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 Hot carrier degradation of mixed-mode polysilicon light emitting diodes 混合模多晶硅发光二极管的热载流子退化
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期刊：Materials Science and Engineering B 作者：Marius E. Goosen; Petrus J. Venter; Nicolaas M. Fauré; Promise N. Msomi; J. Schoeman; et al 出版日期：2023-03-03 |
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彩霞街有才的莲藕
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