| 标题 |
 Single-Image-Based Deep Learning for Precise Atomic Defect Identification 基于单图像的深度学习用于精确原子缺陷识别
相关领域
深度学习
计算机科学
掺杂剂
人工智能
噪音（视频）
图像（数学）
扫描透射电子显微镜
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基本事实
材料科学
鉴定（生物学）
单层
纳米技术
透射电子显微镜
生物系统
模式识别（心理学）
光电子学
兴奋剂
生物
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| 备注 |
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| 其它 |
期刊：Nano Letters 作者：K. Li; Xiaocang Han; Yuan Meng; Junxian Li; Yanhui Hong; et al 出版日期：2024-08-06 |
| 求助人 | |
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