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![]() 物理厚度1.5nm HfZrO负电容NMOSFET
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期刊:IEEE Transactions on Electron Devices 作者:Qiuxia Xu; Kai Chen; Gaobo Xu; Jinjuan Xiang; Jianfeng Gao; et al 出版日期:2021-07-01 |
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