| 标题 |
 Electromagnetic interference shielding performance and structure of multilayered NiFe/Cu thin films: Effects of impedance and defects 相关领域
材料科学
电磁屏蔽
电磁干扰
薄膜
电阻抗
干扰（通信）
复合材料
光电子学
电子工程
纳米技术
电气工程
频道（广播）
工程类
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：Surfaces and Interfaces 作者：Hyun Jun Kwon; Jong Hwan Park; Jung-ho Park; Se Hee Shin; Ki Hyeon Kim; et al 出版日期：2024-05-15 |
| 求助人 | |
| 下载 | 暂无链接，等待应助者上传 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)
无极微光
Jared
eric888
Criminology34
Twonej
Hayat
spc68
lalala
山野下
浮游
wanci
香蕉诗蕊
pluto
芳菲依旧
专注的问寒
asdfzxcv
带头大哥
Andy_Cheung
小郭子
pcr163
子车茗
yznfly
小乔
小青椒
皖公网安备34019202002308
