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  Microfabrication, Characterization, and Cold-Test Study of the Slow-Wave Structure of a Millimeter-Band Backward-Wave Oscillator with a Sheet Electron Beam 毫米波后向波振荡器慢波结构的微加工、表征和冷测试研究
相关领域
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期刊：Electronics 作者：A. V. Starodubov; Roman A. Torgashov; Viktor V. Galushka; Anton M. Pavlov; В. Н. Титов; et al 出版日期：2022-09-09 |
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