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  Ion Bombardment-Induced Stress Mechanism for the Formation of Ag Nanotwinned Films on Si Substrates 相关领域
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期刊：Journal of Electronic Materials 作者：Tung‐Han Chuang; Ang-Ying Lin; Yen‐Ting Chen; Yin-Hsuan Chen; Zi-Hong Yang; et al 出版日期：2024-03-14 |
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