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 A critique of length and bias dependent constraints for 1T-DRAM operation through RFET RFET对1T-DRAM操作的长度和偏压相关约束的批判
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期刊：Semiconductor Science and Technology 作者：Rohit Kumar Nirala; Sandeep Semwal; Abhinav Kranti 出版日期：2022-08-24 |
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