| 标题 |
 Thermal environment impact on HfOx RRAM operation: A nanoscale thermometry and modeling study 相关领域
电阻随机存取存储器
材料科学
光电子学
热阻
多物理
电阻式触摸屏
安全操作区
热的
电子工程
电压
纳米技术
工程物理
电气工程
功率半导体器件
工程类
有限元法
结构工程
物理
气象学
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：Journal of Applied Physics 作者：Matthew P. West; Georges Pavlidis; Robert H. Montgomery; Fabia F. Athena; M. S. Jamil; et al 出版日期：2023-05-08 |
| 求助人 | |
| 下载 | 暂无链接，等待应助者上传 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)
Criminology34
yyds
tuanheqi
6666
AneyWinter66
null
咕哒猫
叽了咕噜
yznfly
xu
mmyhn
YifanWang
lutuantuan
一壶古酒
孤独的不凡
wangai1011
andrele
危机的阁
natmed
浮游
维奈克拉
轻松的尔烟
Twonej
sxb10101
皖公网安备34019202002308
