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 Effects of Au source/drain thickness on electrical characteristics of pentacene thin-film transistors Au源/漏厚度对并五苯薄膜晶体管电学特性的影响
相关领域
并五苯
材料科学
薄膜晶体管
接触电阻
电极
光电子学
工作职能
晶体管
紫外光电子能谱
图层（电子）
纳米技术
X射线光电子能谱
电压
电气工程
核磁共振
化学
物理
工程类
物理化学
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| 其它 |
期刊：Journal of the Korean Physical Society 作者：Jin‐Hyuk Kwon; Joonku Hahn; Jin‐Hyuk Bae; Youngjin Ham; Jaehoon Park; et al 出版日期：2015-11-01 |
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