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 Reliability of Functional Connectivity of Electroencephalography Applying Microstate-Segmented Versus Classical Calculation of Phase Lag Index 应用微状态分段与经典相位滞后指数计算的脑电图功能连接可靠性
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期刊：Brain connectivity 作者：Florian Hatz; Martin Hardmeier; Habib Bousleiman; Stephan Rüegg; Christian Schindler; et al 出版日期：2016-05-25 |
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