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 Reliability of discrete SiC MOSFETs under severe temperature-shock and power cycling tests 分立SiC MOSFET在严重温度冲击和功率循环测试下的可靠性
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期刊：Microelectronics Reliability 作者：Patrick Heimler; S. Richter; Josef Lutz; Thomas Basler 出版日期：2025-07-03 |
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