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  Measurement of AlAs/InP and InP/In0.52Al0.48As heterojunction band offsets by x-ray photoemission spectroscopy AlAs/InP和InP/In0.52Al0.48As异质结能带偏移的x射线光电发射光谱测量
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期刊：Journal of Vacuum Science & Technology B Microelectronics Processing and Phenomena 作者：J. R. Waldrop; E. A. Kraut; C. W. Farley; R. W. Grant 出版日期：1990-07-01 |
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