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 Life-time degradation of STT-MRAM by self-heating effect with TDDB model 基于TDDB模型的STT-MRAM自热效应的寿命退化
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期刊：Solid-State Electronics 作者：Xue Zhang; Guangjun Zhang; Lijie Shen; Pingping Yu; Yanfeng Jiang 出版日期：2020-08-08 |
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