| 标题 |
Transmission electron microscopy characterization of dislocation loops in irradiated zirconium 相关领域
位错
辐照
材料科学
透射电子显微镜
暗场显微术
表征(材料科学)
凝聚态物理
晶体缺陷
空位缺陷
电子束处理
平面(几何)
Burgers向量
各向异性
结晶学
分子物理学
显微镜
光学
几何学
物理
复合材料
化学
纳米技术
数学
核物理学
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:Tungsten 作者:Si-Mian Liu; Wei-Zhong Han 出版日期:2021-08-04 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
|
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)