Metallized film capacitors used for EMI filtering: A reliability review

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标题	Metallized film capacitors used for EMI filtering: A reliability review EMI滤波用金属化薄膜电容器的可靠性评述相关领域电容器电磁干扰可靠性（半导体）电磁干扰薄膜电容器失效模式及影响分析电气工程滤波电容器材料科学电压可靠性工程电子工程工程类功率（物理）量子力学物理
网址	https://doi.org/10.1016/j.microrel.2018.11.003
DOI	10.1016/j.microrel.2018.11.003 doi
其它	期刊：Microelectronics Reliability 作者：Nathan Valentine; Michael H. Azarian; Michael Pecht 出版日期：2019-01-01
求助人	zyj 在 2025-01-02 10:59:13 发布自贵州，悬赏 10 积分
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