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 A Simple Desaturation-Based Protection Circuit for GaN HEMT With Ultrafast Response 相关领域
高电子迁移率晶体管
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计算机科学
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期刊：IEEE Transactions on Power Electronics 作者：Ruoyu Hou; Juncheng Lu; Zhongyi Quan; Yunwei Li 出版日期：2020-11-25 |
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