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KPFM and XPS Metrology of Self-Assembled Monolayer Barrier for Copper Metallization |
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期刊:ECS Meeting Abstracts 作者:Rakefet Ofek Almog; Yelena Sverdlov; Kian Kadan; Larisa Burstein; Ronen Dagan; Yosi Shacham-Diamand 出版日期:2020-02-27 |
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(2025-6-4)