Mechanism and impact of the double-hump substrate current in high-voltage double diffused drain MOS transistors

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标题	Mechanism and impact of the double-hump substrate current in high-voltage double diffused drain MOS transistors
网址	https://doi.org/10.7498/aps.57.4492
DOI	10.7498/aps.57.4492 doi
其它	期刊：Chinese Physics 作者：Jun Wang; Lei Wang; Yemin Dong; Xin Zou; Li Shao; et al 出版日期：2008-01-01
求助人	echo 在 2026-08-05 12:10:02 发布自北京，悬赏 10 积分
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