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Selective etch process for fab-compatible top contacts, replacement oxide, and interlayer removal in 2D FETs |
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期刊:International Electron Devices Meeting 作者:Q. Smets; T. Schram; D. van Dorp; Y. Jiang; A. Opdebeeck; et al 出版日期:2025-12-06 |
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(2025-6-4)