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 Raw and processed data used in the simultaneous analysis of electrical characteristics and microstructure of crystallised PEDOT:PSS based OECTs under strain 用于同时分析结晶PEDOT：PSS基OECTs在应变下的电特性和微结构的原始和处理数据
相关领域
佩多：嘘
材料科学
聚（3,4-亚乙基二氧噻吩）
镜面反射
光电子学
光学
复合材料
聚合物
物理
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| DOI |
10.1016/j.dib.2021.106946
doi
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| 其它 |
期刊：Data in Brief 作者：Joseph Troughton; Bastien Marchiori; Roger Delattre; S. Escoubas; M.Y. Aliouat; et al 出版日期：2021-04-01 |
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