| 标题 |
 Structural study of amorphous In2O3 film by grazing incidence X-ray scattering (GIXS) with synchrotron radiation 非晶态In2O3薄膜的同步辐射掠入射X射线散射（GIXS）结构研究
相关领域
无定形固体
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| DOI |
10.1016/j.tsf.2005.08.256
doi
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| 其它 |
期刊：Thin Solid Films 作者：Futoshi Utsuno; Hiroyuki Inoue; Itaru Yasui; Yukio Shimane; Shigekazu Tomai; et al 出版日期：2006-02-01 |
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