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  Bias-voltage photoconductance and photoluminescence for the determination of silicon-dielectric interface properties in SiO2/Al2O3 stacks 偏压光电导和光致发光法测定SiO2/Al2O3叠层中硅——介电界面性质
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期刊：Journal of Applied Physics 作者：Paul Masuch; Christian Reichel; Ruy S. Bonilla; Armin Richter; Jan Benick 出版日期：2023-08-21 |
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