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 Endurance/Retention Trade-off on $\hbox{HfO}_{2}/\hbox{Metal}$ Cap 1T1R Bipolar RRAM $\hbox{HfO}_{2}/\hbox{Metal}$Cap 1T1R双极RRAM的耐久性/保留率权衡
相关领域
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期刊：IEEE Transactions on Electron Devices 作者：Yang Chen; Ludovic Goux; Sergiu Clima; Bogdan Govoreanu; Robin Degraeve; et al 出版日期：2013-02-15 |
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