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Effect of the High-Temperature and High-Frequency Off-State Stresses on the Evolution of Traps in AlGaN/GaN HEMTs 高温高频关态应力对AlGaN/GaN HEMTs中陷阱演化的影响
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期刊:IEEE Transactions on Electron Devices 作者:Fengyi Li; Juan Xue; Xu Hou; Aoran Fan; Yufeng Zhang; et al 出版日期:2025-09-09 |
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