Effect of the High-Temperature and High-Frequency Off-State Stresses on the Evolution of Traps in AlGaN/GaN HEMTs

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标题	Effect of the High-Temperature and High-Frequency Off-State Stresses on the Evolution of Traps in AlGaN/GaN HEMTs 高温高频关态应力对AlGaN/GaN HEMTs中陷阱演化的影响
网址	http://xplorestaging.ieee.org/ielx8/16/4358746/11153764.pdf?...
DOI	10.1109/ted.2025.3603135 doi
其它	期刊：IEEE Transactions on Electron Devices 作者：Fengyi Li; Juan Xue; Xu Hou; Aoran Fan; Yufeng Zhang; et al 出版日期：2025-09-09
求助人	沐易在 2025-09-10 12:46:03 发布自上海，悬赏 10 积分
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