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 The Trends of In Situ Focused Ion Beam Technology: Toward Preparing Transmission Electron Microscopy Lamella and Devices at the Atomic Scale 原位聚焦离子束技术的发展趋势：原子级透射电子显微镜片和器件的制备
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期刊：Advanced electronic materials 作者：Zijian Zhang; Wanting Wang; Zuoyuan Dong; Xin Yang; Fang Liang; et al 出版日期：2022-03-30 |
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