| 标题 |
Microstructural Characterization of Thin Polycrystalline Films by X-Ray Diffraction |
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| DOI |
10.1154/S0376030800021923
doi
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期刊:Advances in X-ray Analysis 作者:C.N.J. Wagner; M.S. Boldrick; L. Keller 出版日期:2019 |
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(2025-6-4)