| 标题 |
[高分] Phase determination from image and diffraction plane pictures in the electron microscope
根据电子显微镜中的图像和衍射平面图确定相位
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| 网址 |
求助人暂未提供
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| DOI |
暂未提供，该求助的时间将会延长，查看原因？
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| 其它 |
https://cir.nii.ac.jp/crid/1572261550940372224 只在Cinii库看到了这个文章的一点痕迹。 DOI号没找到。 其它文章对此文章的引用内容：GEＲCHBEＲG Ｒ W，SAXTON W． Phase determination from image and diffraction plane pictures in the electron microscope ［J］． Optik，1971，35( 3) : 275－284． |
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