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 GaN on Engineered Bulk Silicon Power Integration Platform With Avalanche Capability Enabled by Built-in Si PN Junctions 通过内置Si PN结实现雪崩能力的工程体硅功率集成平台上的GaN
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期刊：IEEE Electron Device Letters 作者：Gang Lyu; Sirui Feng; Li Zhang; Tao Chen; Jin Wei; et al 出版日期：2022-09-22 |
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