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 Scanning probe microscopy electrical measurement technique and its application in low-dimensional materials: A review 扫描探针显微镜电学测量技术及其在低维材料中的应用
相关领域
纳米技术
材料科学
扫描探针显微镜
纳米材料
电接点
显微镜
计量系统
电流
电阻和电导
表征（材料科学）
计算机科学
量子点
电网
开尔文探针力显微镜
光电子学
电阻率和电导率
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期刊：Materials Today 作者：Tong Ma; Xuesong Mei 出版日期：2025-12-01 |
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(2025-6-4)
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