| 标题 |
 Accurate and Fast On-Wafer Test Circuitry Integrated With a 140-dB-Input-Range Current Digitizer for Parameter Tests in WAT 集成了140 dB输入范围电流数字化仪的精确快速的晶片上测试电路，用于WAT中的参数测试
相关领域
计算机科学
考试（生物学）
电子工程
航程（航空）
集成电路
CMOS芯片
电子线路
晶体管
校准
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：IEEE Transactions on Circuits and Systems I-regular Papers 作者：Long Yi Lin; Hao-Chiao Hong 出版日期：2021-06-15 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时，文件已从服务器自动删除，无法下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
cdercder
冰魂
SYLH
科研助手6
昏睡的蟠桃
卡卡西
椋鸟
HEIKU
剑指东方是为谁
平常的毛豆
bc
无限猕猴桃
Ankher
LaTeXer
yufanhui
shinysparrow
HEAUBOOK
Liou
期待未来的自己
Billy
皖公网安备34019202002308
