Trap-induced electrical degradation in edge-termination-hardened NiO/β-Ga2O3 heterojunction under 10 MeV fluence-dependent proton irradiations

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标题	Trap-induced electrical degradation in edge-termination-hardened NiO/β-Ga2O3 heterojunction under 10 MeV fluence-dependent proton irradiations
网址	https://pubs.aip.org/aip/apl/article-pdf/doi/10.1063/5.02309...
DOI	10.1063/5.0230979 doi
其它	期刊：Applied Physics Letters 作者：Z. L. Zhang; N. Sun; T. Q. Wang; F. Zhou; C. M. Liu; et al 出版日期：2024-10-03
求助人	完美的书雁在 2026-06-08 01:56:23 发布自西班牙，悬赏 10 积分
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