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 Using MoOx/p-Si Selective Contact for Evaluation of the Degradation of a Near-Surface Region of Silicon 相关领域
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期刊：Technical Physics Letters 作者：D. A. Kudryashov; А.С. Гудовских; A. A. Maksimova; A I Baranov; A V Uvarov; et al 出版日期：2020-12-01 |
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